納米薄膜導(dǎo)熱測(cè)量
——熱反射法原理和應(yīng)用
課程描述
隨著航空航天、電子產(chǎn)業(yè)、信息技術(shù)、熱電材料等現(xiàn)代科技的發(fā)展,許多器件與結(jié)構(gòu)的尺寸逐漸縮小,步入微納米級(jí),這對(duì)一些關(guān)鍵材料的導(dǎo)熱與散熱能力提出了要求,也對(duì)相應(yīng)的導(dǎo)熱測(cè)量技術(shù)提出了挑戰(zhàn)。
材料到達(dá)微納米級(jí)別之后,其熱傳導(dǎo)性能比之相同化學(xué)組成的宏觀材料將發(fā)生較大的變化,背后由其微觀傳熱機(jī)制所主導(dǎo)。
本講座將從熱傳導(dǎo)的基本概念與傳統(tǒng)測(cè)量方法講起,由宏觀理論逐漸深入到導(dǎo)熱的微觀機(jī)理,由傳統(tǒng)方法的局限性,引出激光熱散射法測(cè)量原理,儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、測(cè)量模式,及相關(guān)應(yīng)用實(shí)例。
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授課人 | 耐馳公司應(yīng)用專家 周延 |
語(yǔ)言 | 中文 |
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